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参考文献中的[J][M]是什么意思?
1.根据GB3469 规定
①期刊[J] ②专著[M] ③论文集[C] ④学位论文[D] ⑤专利[P
在论文的参考文献部分,可使用文献类型标识码(置于方括号内)以标出文献类型。
以下是常用的标识码和对应的文献类型:
纸质文献
A (article from anthology) 论文集中析出文献
C (collected papers) 论文集;会议录
D (dissertation) 学位论文
J (journal article) 期刊文章
M (major work) 专著;普通图书
N (newspaper article) 报纸文章
P (patent) 专利
R (report) 报告
S (specification) 标准
Z 其他未说明的文献类型
CP (computer program) 计算机程序
DB (database) 数据库
EB (electronic bulletin board) 电子公告
电子文献
CD (CD-Rom) 光盘 DK (disk) 磁盘
MT (magnetic tape) 磁带 OL (online) 联机文献
组配标识
C/OL 网上会议录 CP/DK 磁带软件 DB/MT 磁带数据库 DB/OL 联机网上数据库 EB/OL 网上电子公告 J/OL 网上期刊
M/CD 光盘图书 N/OL 网上报纸
论文参考文献中书写要求
根据GB3469-83《文献类型与文献载体代码》规定,以单字母标识:
M——专著(含古籍中的史、志论著) DB——数据库
C——论文集 CP——计算机程序
N——报纸文章 EB——电子公告
J——期刊文章 非纸张型载体电子文献,在参考文献标识中同时标明其D——学位论文 载体类型:
R——研究报告 DB/OL——联机网上的数据库
S——标准 DB/MT——磁带数据库
P——专利 M/CD——光盘图书
A——专著、论文集中的析出文献 CP/DK——磁盘软件
Z——其他未说明的文献类型 J/OL——网上期刊
电子文献类型以双字母作为标识: EB/OL——网上电子公告
一、参考文献著录格式
1 .期刊作者.题名〔J〕.刊名,出版年,卷(期)∶起止页码
2.专著作者.书名〔M〕.版本(第一版不著录).出版地∶出版者,出版年∶起止页码
3.论文集作者.题名〔C〕.编者.论文集名,出版地∶出版者,出版年∶起止页码
4 .学位论文作者.题名〔D〕.保存地点.保存单位.年份
5 .专利文献题名〔P〕.国别.专利文献种类.专利号.出版日期
6.标准编号.标准名称〔S〕【ol什么意思】
7.报纸作者.题名〔N〕.报纸名.出版日期(版次)
8.报告作者.题名〔R〕.保存地点.年份
9.电子文献作者.题名〔电子文献及载体类型标识〕.文献出处,日期
二、文献类型及其标识
1.根据GB3469 规定,各类常用文献标识如下:
①期刊〔J〕 ⑤专利〔P〕
②专著〔M〕 ⑥标准〔S〕
③论文集〔C〕 ⑦报纸〔N〕
④学位论文〔D〕 ⑧技术报告〔R〕
2.电子文献载体类型用双字母标识,具体如下:
①磁带〔MT〕
②磁盘〔DK〕
③光盘〔CD〕
④联机网络〔OL〕
3.电子文献载体类型的参考文献类型标识方法为:〔文献类型标识/载体类型标识〕。例如:
①联机网上数据库〔DB/OL〕
②磁带数据库〔DB/MT〕
③光盘图书〔M/CD〕
④磁盘软件〔CP/DK〕
⑤网上期刊〔J/OL〕
⑥网上电子公告〔EB/OL
一、参考文献是对期刊论文引文进行统计和分析的重要信息源之一 ,在本规范中采用 GB 7714推荐的顺序编码制编排。
二、参考文献著录项目
a. 主要责任者 (专著作者、论文集主编、学位申报人、专利申请人、报告撰写人、期刊文 章作者、析出文章作者)。多个责任者之间以“,”分隔,注意在本项数据中不得出现缩写点“.”。主要责任者只列姓名,其后不加“著”、“编”、“主编”、“合编”等责任说明。 b. 文献题名及版本(初版省略)。
c. 文献类型及载体类型标识。
d. 出版项(出版地、出版者、出版年)。
e. 文献出处或电子文献的可获得地址。
f. 文献起止页码。
g. 文献标准编号(标准号、专利号……)。
三、参考文献类型及其标识
1、根据 GB 3469规定,以单字母方式标识以下各种参考文献类型:
2、对于专著、论文集中的析出文献,其文献类型标识建议采用单字母“A”;对于其他未说明的文献类型,建议采用单字母“Z”。
3、对于数据库 (database) 、计算机程序 (computer program) 及电子公告 (electronic bulletin board)等电子文献类型的参考文献,建议以下列双字母作为标识:
4、电子文献的载体类型及其标识
对于非纸张型载体的电子文献,当被引用为参考文献时需要在参考文献类型标识中同时标明其载体类型 。本规范建议采用双字母表示电子文献载体类型:磁带(magnetic tape)——MT,磁盘(disk)——DK,光盘(CD-ROM)——CD,联机网络(online)——OL,并以下列格式表示包括了文献载体类型的参考文献类型标识:【ol什么意思】
[文献类型标识/载体类型标识]
如:[DB/OL]——联机网上数据库(database online) [DB/MT]——磁带数据库(database on magnetic tape)
[M/CD] ——光盘图书(monograph on CD-ROM) [CP/DK]——磁盘软件(computer program on disk) [J/OL] ——网上期刊(serial online)
[EB/OL]——网上电子公告(electronic bulletin board online)
以纸张为载体的传统文献在引作参考文献时不必注明其载体类型。
四、文后参考文献表编排格式
参考文献按在正文中出现的先后次序列表于文后;表上以 “参考文献:”(左顶格)或 “[参考文献]” (居中)作为标识;参考文献的序号左顶格,并用数字加方括号表示,如[1]、[2]、…,以与正文中的指示序号格式一致 。参照ISO 690及ISO 690-2,每一参考文献条目的最后均以“.”结束。各类参考文献条目的编排格式及示例如下:
a. 专著、论文集、学位论文、报告[序号] 主要责任者. 文献题名 [文献类型标识]. 出版地: 出版者, 出版年. 起止页码(任选).
[1]刘国钧, 陈绍业,王凤翥. 图书馆目录[M]. 北
京:高等教育出版社,1957. 15-18. [2]辛希孟. 信息技术与信息服务国际研讨会论文集:A集[C]. 北京: 中国社会科学出版社, 1994.
[3]张筑生. 微分半动力系统的不变集[D]. 北京:北京大学数学系数学研究所, 1983. [4]冯西桥. 核反应堆压力管道与压力容器的LBB分析[R]. 北京 :清华大学核能技术设计研究院, 1997.
b.期刊文章
[序号] 主要责任者.文献题名[J]. 刊名,年,卷(期): 起止页码.
[5]何龄修. 读顾城《南明史》[J]. 中国史研究,1998,(3):167-173.
[6]金显贺,王昌长,王忠东,等. 一种用于在线检测局部放电的数字滤波技术 [J]. 清华大学学报(自然科学版), 1993, 33(4): 62-67. c. 论文集中的析出文献
[序号] 析出文献主要责任者. 析出文献题名 [A]. 原文献主要责任者(任选) . 原文献题名 [C]. 出版地:出版者,出版年. 析出文献起止页码.
[7]钟文发. 非线性规划在可燃毒物配置中的应用[A]. 赵玮. 运筹学的理论与应用——中国运筹学会第五届大会论文集[C]. 西安:西安电子科技大学出
版社,1996. 468-471.
d.报纸文章
[序号] 主要责任者. 文献题名 [N]. 报纸名,出版日期 (版次).
[8] 谢希德. 创造学习的新思路[N]. 人民日报,1998-12-25(10). e. 国际、国家标准 [序号] 标准编号,标准名称 [S].
[9] GB/T 16159-1996,汉语拼音正词法基本规则[S].
f.专利
[序号] 专利所有者. 专利题名 [P]. 专利国别:专利号,出版日期.
[10] 姜锡洲. 一种温热外敷药制备方案 [P]. 中国专利:881056073,1989-07-26.
g.电子文献
[序号] 主要责任者.电子文献题名 [电子文献及载体类型标识].电子文献的出处或可获得地址,发表或更新日期/引用日期(任选).
[11] 王明亮. 关于中国学术期刊标准化数据库系统工程的进展 [EB/OL].
1998-08-16/1998-10-04. [12]万锦坤. 中国大学学报
可靠性试验的常用术语
可靠性试验常用术语 试验名称 英文简称 常用试验条件 备注
温度循环 TCT -65℃~150℃,
dwell15min,
100cycles 试验设备采用气冷的方式,此温度设置为设备的极限温度 高压蒸煮 PCT 121℃,100RH.,
2ATM,96hrs 此试验也称为高压蒸汽,英文也称为autoclave
热冲击 TST -65℃~150℃,
dwell15min,
50cycles 此试验原理与温度循环相同,但温度转换速率更快,所以比温度循环更严酷。
稳态湿热 THT 85℃,85%RH., 168hrs 此试验有时是需要加偏置电压的,一般为Vcb=0.7~0.8BVcbo,此时试验为THBT。
易焊性 solderability 235℃,2±0.5s 此试验为槽焊法,试验后为10~40倍的显微镜下看管脚的上锡面积。
耐焊接热 SHT 260℃,10±1s 模拟焊接过程对产品的影响。
电耐久 Burn in Vce=0.7Bvceo,
Ic=P/Vce,168hrs 模拟产品的使用。(条件主要针对三极管)
高温反偏 HTRB 125℃,
Vcb=0.7~0.8BVcbo,
168hrs 主要对产品的PN结进行考核。
回流焊 IR reflow Peak temp.240℃
(225℃) 只针对SMD产品进行考核,且最多只能做三次。 高温贮存 HTST 150℃,168hrs 产品的高温寿命考核。 超声波检测 SAT --------- 检测产品的内部离层、气泡、裂缝。但产品表面一定要平整。【ol什么意思】
IC产品的质量与可靠性测试
一、使用寿命测试项目(Life test items):EFR, OLT (HTOL), LTOL
1)EFR:早期失效等级测试( Early fail Rate Test )
2)HTOL/ LTOL:高/低温操作生命期试验(High/ Low Temperature Operating Life )
O u二、 环境测试项目(Environmental test items)
1)PRE-CON:预处理测试( Precondition Test )
2)THB: 加速式温湿度及偏压测试(Temperature Humidity Bias Test )
3)HAST高加速温湿度及偏压测试(HAST: Highly Accelerated Stress Test )
4)PCT:高压蒸煮试验 Pressure Cook Test (Autoclave Test)
5)TCT: 高低温循环试验(Temperature Cycling Test )
6)TST: 高低温冲击试验(Thermal Shock Test )
7)HTST: 高温储存试验(High Temperature Storage Life Test )
8)可焊性试验(Solderability Test )
9)SHT Test:焊接热量耐久测试( Solder Heat Resistivity Test )
三、 耐久性测试项目(Endurance test items )
1)周期耐久性测试(Endurance Cycling Test)
2)数据保持力测试(Data Retention Test)
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